BC3193 半导体分立器件测试系统
价格:电议
地区: 北京市
电 话:86-10-62572721
传 真:86-10-62572721
  一、设备用途及主要测试对象
  二极管及整流桥:VR、IR、VF、VZ、HVZ、动态阻抗。
  三极管:BVCBO、BVCEO、BVCER、BVCES、BVEBO、ICBO、ICEO、ICER、ICES、IEBO、VCES、VBES、HFE.
  可控硅:IGT、IH、IL、VGT、VON、BVAKF、BVAKR、BVAKO、IAKF、IAKR.
  场效应管:BVDSS、BVDSR、BVDSO、BVDGO、BVGSO、BVGSS、IDSS、IDSO、IGDO、IGSO、IDSR、VGS、VDS、VTH、gm.
  达林顿管:VCESAT、ICEO.R.S、IEBO、HFE、VBESAT、BVCEO.IGBT、BVCGR、BVGES、TGES、VCEST、VGETH.
  光电耦合器:VF、IR、BVR、BVCEO、ICEO、CTR、VCESAT.的静态参数并能对测试结果进行存储和打印。
  二、设备技术指标:
  (1)电流/电压源 VIS
  a 加流(FI)
  量程分辨率
  ±50A 1.5mA±0.5%设定值±50mA
  ±2A 61uA±0.5%设定值±5mA
  ±200mA 6.1uA±0.5%设定值±500uA
  ±20mA 610nA±0.5%设定值±50uA
  ±2mA 61nA±0.5%设定值±5uA
  ±200uA 6.1nA±0.5%设定值±500nA
  ±20uA 610PA±0.5%设定值±50nA
  ±2uA 61PA±0.5%设定值±5nA
  b 加压(FV)
  量程分辨率
  ±20V 610UV±0.5%设定值±2mV
  ±2V 61UV±0.5%设定值±2mV
  ±200mV 6.1UV±0.5%设定值±2mV
  (2)数据采集(电压和电流测量)VIM
  16位 ADC;100K/S 采样速率;8K 数据 RAM
  a 电流测量(MI)
  量程分辨率
  ±200mA 6.1uA±0.5%读数值±500uA
  ±20mA 610nA±0.5%读数值±50uA
  ±2mA 61nA±0.5%读数值±5uA
  ±200uA 6.1nA±0.5%读数值±500nA
  ±20uA 610PA±0.5%读数值±50nA
  ±2uA 61PA±0.5%读数值±5nA
  ±200nA 6.1PA±0.5%读数值±0.5nA
  b 电压测量(MV)
  量程分辨率
  ±2000V 61mV±0.5%读数值±200mV
  ±200V 6.1mV±0.5%读数值±20mV
  ±20V 610UV±0.5%读数值±10mV
  ±2V 61UV±0.5%读数值±2mV
  ±200mV 6.1UV±0.5%读数值±2mV
  (3)高压源 HVS(std)16位 DAC量程分辨率0-±2000V/5mA 61mV±0.5%设定值±0.5V
  三、系统配置
  主控计算机:微机一台
  窗口菜单式软件一套;
  程控高压电压源,一套;
  程控电流电压源(20A/20V)两套;
  程控电流电压源(2A/20V)一套;
  数据采集板一块;
  系统接口板一块,计算机接口卡一块(含IEEE488接口);
  测试适配器(TO-3,TO-92,TO-220,二极管等)