工业共聚焦数码显微镜
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  PhaseView公司的MicroPhase-DCM200数码共聚焦显微镜可以高效率的观察和测量各种工业生产与研究、医学、考古学和刑侦学等不同领域中出现的特殊的,有学术意义的敏感表面。

  一个精密的数码共聚焦模块连接到您使用的光学显微镜,它以30帧每秒的高速纵向扫描方式,采集和测量您的样品表面显微形貌,从而得到一个的,三维的,高分辨率显示的黑白或真彩色表面形貌图。

  易于使用的软件提供许多分析选项,包括粗糙度和波纹度测量,台阶高度评价和颗粒分析等等。用户自定义的试验可以把图像和各种测量结果结合在一起,将大大扩展您的研究空间,增加您的工作效率。