KSHW-A型红外薄膜测厚仪
　　用途：本仪器广泛应用于各种透明半透明塑料制品、纸张的在线测厚。
　　
　　工作原理：
　　本测量装置是利用成对红外线探头组成红外线发射和接收系统，当被测物通过这组探头时，由于被测物吸收红外线而使发射端发出来的红外线在经过被测物发生衰减这一特性以确定被测物的厚度，然后利用计算机作为主处理器，进行信号在线采集处理、数字图像显示、报警等功能。
　　
　　测量方式：
　　1、扫描式（如图一）
　　2、定点式（如图二）
　　
　　技术参数：
　　1、信集、处理、图像显示、报表、报警等功能；
　　2、测量；
　　测量范围：0～800um
　　：1％＋0.1um
　　分辨率：0.1um
　　3、测量显示速度；
　　每秒采样速度2000次，显示处理速度一般每秒少两次，并且是次段所测的平均尺寸值。
　　
　　4、报警；
　　5、定点检测；
　　6、工作电源：220V，1A；
　　
　　7、结构尺寸：控制柜尺寸：600＊600＊1600mm；
　　8、机架尺寸：按照可户要求制定；
　　9、数据查看：可以及时查看原始数据