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N7788B 光元器件分析仪
1主要特性与技术指标 主要优势
？通过单次扫描实现： 无需通过多次扫描计算平均值
？高测量速度
？10 秒之内即可完成 C/L 频带中的完整测量（无需等待多个平均值）
？稳定性不受光纤移动/振动和漂移的影响
2 描述
安捷伦制定了使用 N7788B 元器件分析仪进行元器件测量的限制， 其专有技术可与的琼斯矩阵本征法（JME）相媲美，琼斯矩阵本征法是测量光器件的偏振模色散（PMD）或差分群时延（DGD）的标准方法。

安捷伦新的单次扫描技术具有一系列优点，可用于测试全套参数：
？DGD/ PMD
？PDL
？功率/损耗
？TE/TM 损耗
？二阶 PMD
？主偏振态（PSP）
？琼斯和米勒矩阵
用于生产车间的设计
高吞吐量： 在 10 秒钟内对 C 和 L 频带进行全面分析！
软件驱动程序： 为系统的外部控制提供一系列软件驱动程序。 这有助于通用 ERP 系统中的轻松集成。
远程控制： 支持通过 LAN 或互联网对仪器进行控制， 实现自动操作和故障诊断。
生成： 支持生成 PDF 格式的。 用户可以配置所有的内容（包括版图）。
实时功率读数： 提供实时功率读数（支持新器件的光纤耦合），可以对非连接的器件进行高吞吐量测量。
条形码扫描仪： 支持使用条形码扫描仪快速传输被测器件的序列号。