M-service镜面检测仪
　　
　　2054-CIL
　　2054-CIL系列测量显微镜标配有同轴以及侧向照明装置。同轴照明的优点将在本页的应用示例中阐明。特别是在镀铬的、镜面表面上常常不能借助侧向照明完全证实表面结构。只有借助直接从物镜射出的光才能完成检查。使用标准底座的2054-CIL显微镜提供40倍以上的放大倍数。与MST 支架组合后也可以使用2倍物镜。在轧辊上只能借助MST支架使用显微镜。附加的侧向照明可以实现例如印刷品上的网点检查与测量。同样也可以使用数码相机，比如带有USB相机的附加设备。通过装有两节1.5 伏小型电池的小型电池盒为同轴照明进行供电。
　　
　　2034-CIL-300-ZX
　　2034-CIL-300-ZX 系列测量显微镜是深度测量的理想助手。通过几乎无间隙的同轴移动可以对聚焦面进行的调焦。为了达到这一目标，对2034系列显微镜镜体进行了改良。使用成套的 30物镜，相当于300倍放大倍数，可以达到微小的景深，而这正是加工所需要的。当然也可以使用这种显微镜进行普通的长度测量。长度测量以及数码测量仪上刻度的小分度为1微米（μm）。刻度的测量长度为0.2毫米，对角线的视域为0.48毫米。取得测量结果的重要条件：始终从各自一端对上方与下方的聚焦面进行调焦。只有这样才能确保微小的反转不会造成测量失真。直接通过物镜的同轴照明在这里也有重要的作用。只有借助该照明光才能完全识别聚焦面。测量显微镜可以选择配带 MKH和MST支架进行供货。MKH支架仅适用于平面材料的测量。如要在轧辊或弯曲物体上进行测量，以及在使用其他物镜进行视觉检查时，必须使用MST 支架。原因：否则目标距离太小。无法使用数码相机与深度测量仪的组合。然而借助 USB相机也可以将测量显示在便携式电脑或PC的屏幕上。可以选择购买带有 Maglite的铝制灯具支架。
　　刻度盘：可以购买图示的测量刻度盘，其直径为26毫米（1975）和35毫米（1983）。从中可以在下列测量放大镜中使用：刻度盘1975所适用的放大镜订货编号：1975，1976，1998，1999和2015.刻度盘1983 所适用的放大镜订货编号：1983，2028，2004和2049.在订货编号旁标明了各自的放大倍数。供货的显微镜配置有左上图示的标准刻度盘。可以将其作为备件单独供货。可以按其所匹配放大倍数订购中间与右边的刻度盘。订货编号上有说明。第二排中的两个刻度盘适用于2034、2054、2054-EIM和2054-CIL系列显微镜。左边的刻度盘是成套装备中的一件，可以另外作为备件进行供货。而右边的刻度盘仅可以使用20 倍与40倍两种放大倍数。注意：带20倍放大倍数的2054-CIL 显微镜必须使用MST支架。