SFT9400系列
　　X射线荧光镀层厚度测量仪SFT9000系列里的机型「SFT9400系列」搭载有75W高功率X射线管与双检测器（半导体检测器＋比例计数管），能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。
　　此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。
　　
　　窗体顶端
　　产品特点：
　　★ 搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器＋比例计数管）
　　可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。
　　能够对Ni／Cu和Au／Ni／Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
　　对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高的测量
　　可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度

　　★搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件
　　对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域
　　★适用超微小面积的测量
　　标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。
　　★搭载了可3段切换的变焦距光学系统
　　★拥有防冲撞功能
　　★搭载高样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455）
　　★搭载激光对焦系统
　　★搭载测试自动生成软件