工作原理
　　
　　1　HEAD3020动态离子分析仪TEIMS的工作原理是根据离子飘移的波谱测量技术（Ion　Mobility　Spectrometry）。这技术能测量微少SF6气体的污染物含量和局部放电所产生足够数量的腐蚀性物质的含量；也能检测到极其少量的微水形成腐蚀性物质及有毒物质的含量，更能放置于一台便于携带及耐用可靠的仪器中，能让维修人员在设备现场实施检测并得到测量结果。
　　
　　2　不同的化合物分子经过离子产生源（局部放电）后，所产生的离子之流动性有所不同（因质量和几何形状等原因），所测量到的离子漂移时间也不同。污染物使离子群的相互作用力不同，　从而导致漂移时间峰值刻度位置也相应不同。所以，峰值的漂移，可用于开关中SF6气体的纯度检测，得到一个与SF6中杂质数量相对应的直观的信号。
　　
　　3　仪器HEAD3020先将所测量气体样本离子化，测量离子于特定的电场内飘移的速度，得出相关的波谱，再跟纯净气体的波谱比较，得出峰值的相差。仪器根据峰值的相差，便能计算出气体中污染物的总含量。
　　
　　应用特点
　　
　　1　电力公司、高电压变电站、发电厂。
　　
　　2　安装可接于所有现时通用的阀门。
　　
　　3　操作简单，机动性高，可长期监视GIS、GIT。等气室的SF6绝缘品质。能收到有关于SF6气体情
　　
　　况以及开关工作可靠性的信息，并可及时判断气体污染情况，在造成开关的故障和严重损坏之前
　　
　　排除隐忧。
　　
　　4　量化SF6气体内污染物的含量（0.5-5，000ppm）。
　　
　　5　测量水分的含量（单位：DP或ppm）。
　　
　　6　通过内置的压力传感器，可监控密闭空间内的压力。
　　
　　7　测量局放及其过去记录（即使小于1pc）。
　　
　　8　到预防故障的维修策略。
　　
　　9　极少的气体消耗量（每次300-500ml）。
　　
　　10　快速得到测试结果（10秒内）。
　　
　　主要功能
　　
　　1　直接动态监控SF6的纯度，并能显示测量SF6内污染物的总含量（0.5–5，000　ppmv）。　
　　
　　2　可探测气体绝缘空间中小于1PC的电子放电。
　　
　　3　实现SF6填充空间预防故障的检查及维修策略。
　　
　　4　通过分析周期趋势曲线防止开关失效。
　　
　　5　透过内置的压力传感器，可动态检测并显示监控密闭空间内的压力。
　　
　　6　通过露点测量得到SF6中的微水含量。
　　
　　7　快速得到测试结果（少于10秒）。
　　
　　8　极少的气体消耗量（每次约300ml）。
　　
　　技术参数
　　
　　1　电源：115／230V　AC，50-60HZ
　　
　　2　功率：60W
　　
　　3　信号：0-10V
　　
　　4　触发：0-10V
　　
　　5　重量：11Kg
　　
　　6　尺寸：185×340×320mm
　　
　　7　压力：14bar（1400kpa）
　　
　　8　流量：2L／h
　　
　　9　测量消耗气体（10次质谱）：约300ml
　　
　　全方位服务
　　
　　1　产品享有一年的质保期，终身维护。
　　
　　2　提供详尽的使用说明书等用户资料。
　　
　　3　用户使用情况直接进入哈德CRM系统，客户支持区对使用情况全程跟踪服务。
　　
　　4　定期寄赠《哈德专栏》、《哈德人》、《哈德电子期刊》以及新的SF6行业及产品信息，让客户了解行业动向、共享维护经验和维护技术前沿信息等。
　　
　　5　定期的SF6产品专题研讨和培训。
　　
　　6　热线随时解答用户咨询。
　　
　　7　完善的反馈通道：
　　
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