OPTOTOP是一套快捷高效的，非接触式光学表面测量系统。它能在纳米，微米，及大尺寸下进行光学形貌及几何测量。
　　优势：
　　◆方便舒适的操作
　　◆快速的数据提取
　　◆多样性测量方法，完全的交互式操作
　　◆2D形态下的微粗糙度值（表面粗糙及缺陷）
　　◆特定区域内，具方向性的粗糙度值（组织，纹理分析）
　　◆2D，3D以及深度剖面的形貌描述
　　
　　应用范围：
　　◆光滑面，粗糙面，曲面的表面粗糙度分析
　　◆大尺寸计算，微几何形态描述，及平坦度控制
　　◆表面控制，例如：滚筒模
　　◆应用领域包括：研发，品质生产控制，验收检验，及损坏分析
　　
　　技术规格：
　　传感器：彩色共焦　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　
　　测量频率：100HZ／300HZ（1kHZ）
　　测量范围Z：300mm／1mm／2mm　　　　　　　　　　　　　
　　行程XY：60mmⅹ60mm
　　解析度Z：12nm／25nm／75nm　　　　　　　　　　　　　　　
　　速率：0.1bis　10mm／s
　　侧向解析度：1.55mm／2mm／4mm　　　　　　　　　　　　
　　平台尺寸：165ⅹ165mm
　　测量长度：11mm／12.7mm／16.4mm　　　　　　　　　　　　　　　
　　电脑，软件，显示器：LCD　17〞