特性　　
　　●全自动化量测设计
　　●使用者可自行与标准样品做校正，无须负担庞大的校正费用
　　●软体可配合使用者的习惯或需要做部分修改
　　●可产生各种使用者所单色光谱光源及功率
　　●采用CIE 1931，和CIE1976 U.C.S标准及演等方法
　　●可逹小数点4位小数的高测量仪，操作介面简单、外形小巧等特点。
　　●能测量不同形式的LED，例如LED Chip，SMD，Lamp，Module，LED Display.
　　　
　　量测范围
　　光谱仪的波长范围：350nm–1050nm
　　波长间隔：0.5nm
　　辐射强度：0–5000mW／sr±5％
　　色度座标：±0.000