测试座(Hyinx HI704)
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  Hyinx HI704测试治具特点:
  1.座头采用手动翻盖结构,操作灵敏。
  2.座头顶盖的芯片压块采用人性化结构,下压力度平稳,保证IC的压力均匀,不偏移。
  3.探针的爪头凸起能有效刺破锡球的氧化层,接触稳定,保护锡球外形。
  4.理性化的定位槽、导向孔可以确定IC定位。
  5.特殊IC载板结构,保护探针不受外力损坏。
  6.探针:进口探针,铍铜镀硬金、铑。
  7.维修成本低:方便更换探针,成本低效率高。
  8.高强度耐高温绝缘材料:330度。
  9.成熟加工范围:跳距pitch=0.4mm.
  10.交货周期:快三天内交货。

  圆融达产品售后保障:
  1.100天保修(人为损坏除外)。
  2.保修期外,维修,如果需要换部件,只收对应材料成本费。
  3.可以提供相关的技术支持。  
  圆融达售前服务:
  1.提供产品使用说明及产品维护保养事项。
  2.对客户使用培训。