探测器

● 类型：X123探测器（原装进口高性能电致冷半导体探测器）

● Be窗厚度：1mil

● 晶体面积：25mm2

● 分辨率：145eV

●信号处理系统：DP5

X射线管

●电压：0-50v

●电流;2mA

●功率:50W

●靶材：Mo

●Be窗厚度：0.2mm

●使用寿命：大于2w小时

高压电源

●输出电压：0-50Kv

●灯丝电流0-2mA

●功率：50w

●纹波系数：0.1%（p-p值）

●8小时稳定性：0.05%

摄像头

●焦距：微焦距

●驱动:免驱动

●像素：500万像素

准直器、滤光片

●系统：快拆卸准直器、滤光片系统

●材质：多种材质准直器

●光斑：光斑大小Φ0.2mm、Φ1.0mm、Φ2.0mm、Φ4.0mm可选

十字激光头

●光斑形状：十字线

●输出波长：红光650nm

●光学透镜：玻璃透镜

●尺寸：Φ10×30mm

●发散角度：0.1-2mrad

●工作电压：DC 5V

●输出功率：<5mW

●工作温度：－10～50℃

其它配件

●开关电源：进口高性能开关电源

●散热风扇：进口低噪声、大风量风扇

 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线

● 辐射标志警示           

● 仪器经权威第三方检测，X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》

硬件技术

● X射线下照式，激光对焦可调样品仓，对于异形不平整样品，无需拆分打磨，可直接测试

● 模块化准直器，根据分析元素，配备不同材质准直器，从而降低准直器对分析元素的影响，提高元素分辨率

● 小光斑0.2mm，可针对各种样品中的小测试点定位，避免材质干扰，测量结果更准确

● 空气动力学设计，加速光管冷却，有效降低仪器内部温度；静音设计

● 电路系统符合EMC、FCC测试标准

软件技术

● 分析元素：Na~U之间元素

● 分析时间：90秒

● 界面简洁，模块化设计，功能清晰，易操作

● 数据一键备份，一键还原、一键清理功能，保护用户数据安全

● 根据不同基体样品，配备三种算法，增加样品测试精准度

● 配备开放式分析模型功能，客户可自行建立自己的工作模型。