智慧型记忆体测试卡

主要规格：
◇　依据PC　Timing方式来进行藉此能够以客观而明确的测试，迅速且直接地呈现测试结果，而直接兼容于PC系统上。

◇　支援Single／Dual　Channel（64　Bits　／128　Bits）支持范围【DDR　PC200／PC266／PC333／PC400／…】容量【4G　Byte】　位宽度：【128　Bit】

◇　提供Auto　Detect的设计
【CPU】─TYPE、ID、SPEED
【CHIP】─TYPE
【DRAM】─容量、频率、CL、Trcd、Trp
【CHANNEL】─SINGLE、DUAL
让使用者可以藉由此功能，可以迅速地自动判读所测试之规格条件。

◇　提供Test　Pattern　Selectable的设计让使用者可以自行依照Dram的特性、规格需求，来选择特定之Test　Pattern，使本测试卡可以更地分析IC颗粒的好坏。

◇　提供Loop　Test的设计　
由于Dram颗粒的温度特性及生产方式之不同，为达到Dram　Module稳定工作于PC　System，
而设计Loop　Test。藉由重复的测试，使待测记忆模块之温升能确保其运作正常动作。