产品介绍：
　　SVM系列光学影像测量机是利用光学放大成像，将显微镜下观测到的物体影像数字化，结合控制软件进物体的几何尺寸测量以及绘图，并可将数据表格化以及进行后期处理。适用于机械、电子、电器、模具以及精密五金的检测和设计开发。

　　功能：
　　几何元素测量、组合元素测量、几何元素构造、形位公差评定、逆向工程等，各种报表的输出。

　　设备特点：
　　u 采用全花岗石底座、支柱，保证机械系统的稳定性
　　u 表面环形光和轮廓光均采用连续可调的LED冷光源，避免造成被测物体的热变形，使用寿命长
　　u 平行轮廓光，边界更清晰，保证测量
　　多种格式输出
　　将测量结果以不同形式输出，便于客户的后期使用。
　　SPC输出
　　通过对数据的采样、管制、分析，软件会对生产过程进行评估，并给出相关结果和图形。

　　技术参数：
　　型号：SVM 4030 II
　　u 行程（X，Y，Z）：400 mm X 300 mm X 200 mm
　　u 光栅尺分辨率：1μm（X、Y，如果选择TESASTAR测头，Z轴需要增加光栅尺）
　　u 变焦物镜倍率：0.7 X--4.5X
　　u 摄像机：1/3”SONY彩色CCD 摄像机
　　u 工作距离：90 mm
　　u 物方视场：8.2 mm~1.2 mm
　　u 总放大倍率：18 X~120 X
　　u 光源：表面环形光采用白色LED，轮廓光采用绿色LED，亮度可无极调节
　　u 电源：220 V，50 Hz
　　u 工作台承重：10kg
　　u 控制方式：手动
　　u 测量：（3.0＋L/150）μm