氧化膜测厚仪PD-CT1
　　本仪器是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪，它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域，是材料保护必备的仪器。
　　本仪器符合以下标准：
　　GB/T　4956─1985磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法
　　GB/T　4957─1985非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法
　　JB/T　8393─1996磁性和涡流式覆层厚度测量仪
　　JJG　889─95《磁阻法测厚仪》
　　JJG　818─93《电涡流式测厚仪》
　　氧化膜测厚仪PD-CT1
　　l采用了磁性和涡流两种测厚方法
　　l测量范围：（0～1250）μm
　　l低限分辨率：1μm
　　l测量：±（3%H＋1）μm，H为被测涂层厚度
　　l显示方法：高对比度的LCD液晶显示，高亮度EL背光
　　l存储容量：可存储5组测量数据，每组多保存100个测量值
　　l显示单位：公制（μm）、英制（mil）
　　l工作电压：3V（一节CR123A型锂电池）
　　l外形尺寸：136mm×76mm×25mm
　　l整机重量：约200g
　　氧化膜测厚仪PD-CT1
　　l采用了磁性和涡流两种测厚方法，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；
　　l具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）；
　　l具有两种工作方式：直接方式（DRT）和批组方式（GRP）；
　　l具有高测量模式：多次测量取平均，并对可疑数据进行自动过滤，可确保测量值更加准确、稳定；
　　l具有温度补偿功能：可自动对环境温度及测头温度改变引起的测量误差进行补偿，使测量更准确；
　　l设有五个统计量：平均值（MEAN）、值（MAX）、小值（MIN）、测试次数（NO.）、标准偏差（S.DEV）；
　　l可采用零点校准、单点校准或两点校准法对仪器进行校准，并可用基本校准和温度系数校准法对测头的系统误差进行修正；
　　l具有存储功能：多可存储500个测量值；
　　l具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存储区内的所有数据，以便进行新的测量；
　　l可设置限界：对限界外的测量值自动报警；
　　l具有电源电量指示功能；
　　l操作过程有蜂鸣声提示；
　　l设有三种关机方式：手动关机方式、超时自动关机方式以及低电量自动关机方式，并可设置超时自动关机等待时间，自动关机时伴有背光闪烁及蜂鸣提示；
　　氧化膜测厚仪PD-CT1
　　l温度：0℃～40℃
　　l湿度：20%RH～90%RH
　　l周围环境无强烈振动、无强烈磁场、无腐蚀性介质及严重粉尘
　　名称
　　数量
　　涂层测厚仪主机
　　1台
　　F型或N型或FN型测头
　　1只
　　标准片
　　5片
　　F型或N型基体
　　1块
　　CR123A型3V干电池
　　1节
　　使用说明书
　　1本
　　合格证
　　1张
　　产品保修卡
　　1张
　　质量反馈意见书
　　1张
　　测头类型
　　F型
　　N型
　　工作原理
　　磁感应
　　涡流
　　测量范围（μm）
　　0～1250
　　0～1250
　　铜上镀铬　0~40
　　低限分辨力（μm）
　　1
　　1
　　示值
　　零点校准（μm）
　　±（3%H＋1）
　　±（3%H＋1）
　　两点校准（μm）
　　±［（1～3）%H＋1］
　　±［（1～3）%H＋1］
　　测
　　试
　　条
　　件
　　小曲率半径（mm）
　　凸1.5
　　凸3
　　小面积的直径（mm）
　　Φ7
　　Φ5
　　基体临界厚度（mm）
　　0.5
　　0.3
　　蒋秀强.。25