涂层测厚仪(TT230)
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  TT230涂层测厚仪
  北京时代TT230涂层测厚仪是一种超小型的测量仪。时代TT230涂层测厚仪能快速、无损伤、精颏地进行非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量。TT230测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、商检等检测领域。TT230氧化膜测厚仪体积小,测头与仪器一体化,特别适用于工程现场测量。

  TT230测厚仪的主要技术指标
  
  测量原理:涡流法
  测量范围:1~1250μm
  测量:±(3%H+1.5)μm(零点校准)
  ±[(1~3)%H+1.5]μm(二点校准)
  
  北京时代TT230涂层测厚仪的主要功能
  
  可进行零点校准及二点校准。
  可对测头进行基本校准。
  设有五个统计量:平均值(MEAN)、值(MAX)、小值(MIN)、测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)。可存贮和统计计算15个测量值。
  具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE)。
  自动关机功能。
  删除功能:对测量中出现的单次可疑数据进行删除,也可删除存贮区内的所有数据,以便进行新的测量。
  操作过程有蜂鸣声提示。
  有欠压指示功能。
  有错误提示功能。