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冲击试样缺口投影仪（S-50）
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　　CTS-50型冲击试样缺口投影仪是为检查夏比V型或U型冲击试样缺口质量而设计、开发的一种专用光学仪器，与刻在投影屏上的冲击试样缺口标准样板图进行对比，以确定被检测的冲击试样缺口加工是否合格，对比直观，操作简单，效率高。是理化试验室的必备专用设备。

　　主要技术参数：
　　投影屏：200×200mm
　　放大倍数：50X
　　光源：12V100W（卤钨灯）
　　电源：220V50Hz150W
　　外型尺寸：515×224×603mm
　　重量：约18Kg