Chroma58173-FC LED 覆晶型全光通量自动测试系统
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主要特色： 提供全方位电性测试 (200V/2A) ，可满足HV及HP测试 Chroma大面积光侦测器(量测角度可达148度) 半自动精密LED wafer/chip点测设备 特殊无钻孔真空平台设计 特制Edge Sensor具有点测针压稳定，无疲乏与针压变动问题 独特萤幕直觉式调针方式 机械视觉定位系统，缩短人工操作时间 Prober与Tester整合，效益大幅提升 自动抽测功能 广泛的芯片尺寸应用(满足Chip Size 7~120 mil测试) 弹性调整的软体操作界面 快速芯片扫描系统 自动破片扫描演算法 遮光罩设计，杜绝背景光干扰 即时显示点测资料分布图 完善的量产测试统计报表及分析工具 |
硬体设备
半自动化 LED wafer/chip 点测设备
漏电流测试模组
电源量测单元
光学测试模组
ESD 测试模组 (选配)
58173-FC为针对覆晶型(Flip Chip) LED开发的半自 动点测设备。特殊的无钻孔玻璃平台设计使得收光路径上无任何干涉，因而达到更加精 准的量测。
延用致茂研发的高速精准的LED全光通量的量测 方式 ，这种创新的量测方式不仅比传统 方式收集更多的LED部分光通量，也明显的改善 提升了量测准确度。
在光学量测方面，主波长、峰波长、色温等均可 透过致茂独特的光学设计与元件取得且稳 定快速之数据；在电性测试方面，58173-FC 则 具备完整之电源量测单元，无论顺向电压、漏电 流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性，均可于一 次满足使用者的测试需求。
58173-FC将Prober和Tester完全整合，搭配弹性 调整的软体操作界面及逻辑演算法使得生产 效益大幅提升 ；完善的量产测试统计报表及分 析工具可以让使用者用轻松掌握生产状况。
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Model | Description | 询价 |
58173-FC | LED 覆晶型全光通量自动测试系统 | |
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品牌/商标
台湾Chroma
企业类型
贸易商
新旧程度
全新
原产地
台湾