7800 系列脉冲式线圈测试仪以MCU信息处理系统为，控制以高压可控硅模块（采用本公司特有技术制造）、高IGBT高压开关电源等先进技术设计的高压脉冲发生器对线圈施加极短时间的高压脉冲，典型的线圈自激衰减振荡波行见图1，其瞬间态波行模拟信号通过采样频率可达40MHz（既每秒采样4千万次）的高速A／D转换器换成数字信号后馈送至MCU进行时间、副值、面积、相位等参数的运算，处理结果保存在MCU 信息处理系统的电子存储器中（多可储存100条不同线圈的波形参数信息），并用直观易懂的文字、数据及图形显示在液晶显示屏（LCD）上。