这款机型在2000年世行中标仪器的基础上做了大量的改进工作。功能更强，使用更方便。具有恒流模式/恒高模式形貌检测功能，隧道电流-针尖偏压（I-V）曲线测量功能，隧道电流-间隙（I-Z）曲线测量功能和针尖修饰功能。

　　用户还能根据对教学/科研不同的要求，选择3μm-100μm不同范围的扫描器，以及高分辨CCD观测系统和高样品X-Y移动平台，使操作更加方便、。

　　同我们所有MicroNano 系列产品一样，这款机型还可以根据用户需要，选购相应的功能模块，将功能扩展至原子力显微镜模式、磁力显微镜模式。

技术指标 ：

　　扫描模式：STM恒流/恒高模式扫描；隧道电流-针尖偏压（I-V）曲线测量；隧道电流-间隙（I-Z）曲线测量；针尖修饰（脉冲）
　　样品尺寸：≤Φ10mm
　　样品厚度：≤5mm
　　扫描范围：标准配置6μm×6μm
　　分辨率：X-Y向0.1nm；Z向0.01nm
　　XYZ控制：双12-bit D/A（相当于20位）
　　数据采样：双12-bit A/D （相当于20位）
　　扫描速率：20000 P/S
　　扫描角度：0~360°
　　图像采样点：256×256 / 512×512
　　马达控制：线动螺纹+自动马达，行程<10mm，<0.1μm
　　计算机接口：标准并行口
　　配套功能强大的MicroNano SPM 2.1软件系统

可选配件及功能模块：
　　3μm×3μm，20μm×20μm，50μm×50μm，100μm×100μm规格扫描器
　　高分辨CCD观测系统
　　高样品X-Y移动平台
　　MicroNano AFM-II型原子力显微镜功能模块
　　MicroNano AFM-III型轻敲模式原子力显微镜功能模块
　　MicroNano MFM-I型磁力显微镜功能模块