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大连瑞闻科技有限公司为您提供FILMETRICS薄膜厚度测定仪,F40/F42系列解决以下问题:
(1)F40 型能方便固定到您的显微镜上来测量小至 2.5 um 光斑的厚度和折射率
(2)F42 型是完整的 2-D 厚度显微测绘系统
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