CMI900膜厚测试仪
　　
　　CMI900是一款性价比极高的台式　X　射线荧光光谱仪，应用于涂镀层厚度测量及材料成分分析。
　　
　　
　　
　　详细信息
　　高性能X射线荧光光谱仪
　　
　　快速的分析：正比计数探测器和50瓦微焦X射线管，大大提高了灵敏度
　　简单的元素区分：二次光束过滤器可以分离重叠元素
　　性能优化，测量元素范围广：可预设参数
　　CMI900提供800多种预设应用参数/方法
　　杰出的长期稳定性：
　　自动热补偿测量仪器温度，纠正变化，提供稳定的结果
　　简单快速的光谱校准，定期检查仪器性能（如灵敏度），并提供必要的纠正
　　坚固耐用的设计
　　
　　可以在实验室或生产线上操作
　　坚固的工业设计
　　经行业验证的技术，在销售量超过3000台
　　有效调整生产过程，从而提高生产力
　　
　　确保元件可靠性
　　测量焊料合金成份和镀层厚度
　　优化质量控制，从而确保产品生命周期
　　分析导电性镀层金和钯的厚度
　　测量电脑硬盘上的NiP层厚度
　　电镀处理的成本小化，产量化
　　
　　快速简单的分析
　　同时进行单层或多层镀层厚度测量及成份分析
　　多可分析4层（不包括基层）
　　镀液成份分析
　　
　　珠宝及其他合金的快速无损分析
　　贵金属合金分析
　　黄金纯度分析
　　材料鉴定