X-Strata920镀层测厚仪
　　荧光分析仪 X-Strata920是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。
　　
　　X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920为这些行业提供了：
　　
　　以更有效的过程控制来提高生产力
　　有助电镀过程中的生产成本小化、产量化
　　快速无损地分析珠宝及其他合金
　　快速分析多达4层镀层
　　经行业的技术和可靠性，确保每年都带来收益
　　操作简单，只需要简单的培训

其他说明

主要规格	规格描述
X射线激发系统	垂直下照式X射线光学系统
	空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
	标准靶材:Rh靶;任选靶材:W,Mo,Ag等
	功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)
	装备有安全防射线光闸
	二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质,多种厚度的二次滤光片任选
准直器系统	单准直器组件
	多准直器自动控制组件:多可同时装配6种规格的准直器
	圆形,矩形和多种规格尺寸准直器任选(红色为常用的):   类型 单位 准直器规格 圆形 mil 4 6 8 12 13 20 mm 0.102 0.152 0.203 0.305 0.33 0.508 矩形 mil 1x2 2x2 0.5x10 1x10 2x10 4x16 mm 0.025x0.05 0.05x0.05 0.013x0.254 0.254x0.254 0.051x0.254 0.102x0.406
测量斑点尺寸	在12.7mm聚焦距离时,小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器)
	在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圆形12mil>准直器)
样品室	开槽式样品室
样品台尺寸	610mm x 610mm
XY轴移动范围	标准:152.4 x 177.8mm<程控>
Z轴程控移动高度	43.18mm
XYZ轴控制方式	多种控制方式任选: XYZ三轴程序控制; XY轴手动控制和Z轴程序控制; XYZ三轴手动控制
样品观察系统	高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍. 50倍和100倍观察系统任选.
	激光自动对焦功能
	可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置	IBM计算机 佳能或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件	操作系统:Windows XP中文平台 分析软件包:SmartLink FP软件包
测厚范围	可测定厚度范围:取决于您的具体应用.
基本分析功能	采用基本参数法校正.牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品;
	样品种类:镀层;
	可检测元素范围:Ti22 –U92;
	可同时测定5层/15种元素/共存元素校正;
	贵金属检测,如Au karat评价;
	材料和合金元素分析;
	材料鉴别和分类检测;
	多达4个样品的光谱同时显示和比较;
	元素光谱定性分析.
调整和校正功能	系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移
测量自动化功能	鼠标激活测量模式:"Point and Shoot"
	多点自动测量模式:随机模式,线性模式,梯度模式,扫描模式,重复测量模式
	测量位置预览功能
	激光对焦和自动对焦功能
样品台程控功能	设定测量点
	连续多点测量
	测量位置预览(图表显示)
统计计算功能	平均值,标准偏差,相对标准偏差,值,小值,数据变动范围,数据编号,CP,CPK,控制上限图,控制下限图
	任选软件:统计编辑器允许用户自定义多媒体书
	数据分组,X-bar/R图表,直方图
	数据库存储功能
系统安全监测功能	Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器