X-Strata920镀层测厚仪
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  X-Strata920镀层测厚仪
  荧光分析仪 X-Strata920是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。
  
  X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920为这些行业提供了:
  
  以更有效的过程控制来提高生产力
  有助电镀过程中的生产成本小化、产量化
  快速无损地分析珠宝及其他合金
  快速分析多达4层镀层
  经行业的技术和可靠性,确保每年都带来收益
  操作简单,只需要简单的培训

其他说明

主要规格 规格描述
X射线激发系统 垂直下照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W,Mo,Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质,多种厚度的二次滤光片任选
准直器系统 单准直器组件
多准直器自动控制组件:多可同时装配6种规格的准直器
圆形,矩形和多种规格尺寸准直器任选(红色为常用的):
 
类型 单位 准直器规格
圆形 mil 4 6 8 12 13 20
mm 0.102 0.152 0.203 0.305 0.33 0.508
矩形 mil 1x2 2x2 0.5x10 1x10 2x10 4x16
mm 0.025x0.05 0.05x0.05 0.013x0.254 0.254x0.254 0.051x0.254 0.102x0.406
测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器)
在12.7mm聚焦距离时,测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圆形12mil>准直器)
样品室 开槽式样品室
样品台尺寸 610mm x 610mm
XY轴移动范围 标准:152.4 x 177.8mm<程控>
Z轴程控移动高度 43.18mm
XYZ轴控制方式 多种控制方式任选:
XYZ三轴程序控制;
XY轴手动控制和Z轴程序控制;
XYZ三轴手动控制
样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍.
50倍和100倍观察系统任选.
激光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
计算机系统配置 IBM计算机
佳能或爱普生彩色喷墨打印机
分析应用软件 操作系统:Windows XP中文平台
分析软件包:SmartLink FP软件包
测厚范围 可测定厚度范围:取决于您的具体应用.
基本分析功能 采用基本参数法校正.牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品;
样品种类:镀层;
可检测元素范围:Ti22 –U92;
可同时测定5层/15种元素/共存元素校正;
贵金属检测,如Au karat评价;
材料和合金元素分析;
材料鉴别和分类检测;
多达4个样品的光谱同时显示和比较;
元素光谱定性分析.
调整和校正功能 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移
测量自动化功能 鼠标激活测量模式:"Point and Shoot"
多点自动测量模式:随机模式,线性模式,梯度模式,扫描模式,重复测量模式
测量位置预览功能
激光对焦和自动对焦功能
样品台程控功能 设定测量点
连续多点测量
测量位置预览(图表显示)
统计计算功能 平均值,标准偏差,相对标准偏差,值,小值,数据变动范围,数据编号,CP,CPK,控制上限图,控制下限图
任选软件:统计编辑器允许用户自定义多媒体书
数据分组,X-bar/R图表,直方图
数据库存储功能
系统安全监测功能 Z轴保护传感器
样品室门开闭传感器