◇膜厚仪说明书
　　本膜厚仪是一种专用于测量镀铝膜厚度的仪器。它能快速、无损伤、地进行非导电基体上金属覆层厚度的测量，仪器配置专用的传感器，检测压力恒定，接触可靠，性能稳定，寿命长。该仪器体积小，传感器与主机设计合理，特别适用于现场测量。Mobile：1507.2616.119
　　
　　◇技术参数：
　　测量范围：0.0〜99.0Ω
　　分辨率：0.1Ω
　　
　　◇使用环境：
　　温度：5℃~40℃
　　湿度：20%~80%RH
　　其他：无较强的电场干扰
　　电源：220V±10%，50/60Hz，3VA
　　外形尺寸：200 mm×80 mm×200mm
　　重量：主机1.5kg，传感器1.2kg
　　配置：主机1台；传感器1台；连接线1根