数字IC品质分选测试仪(IST3100)
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地区: 北京市
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  数字IC多值逻辑测试仪,是我们通过总结国外同类产品的优点,本着实用、方便、测试精准的宗旨,面向国内外市场推出的数字IC参数测试仪(并且在不断地完善之中)。该仪器特别适合,整机生产厂商及其它IC应用厂家的器件级进厂测试。目前,对中小规模数字IC进行简单的逻辑功能测试,已不能满足IC用户的测试需求。ICT3100 数字IC多值逻辑测试仪,利用的多值参数比较法,可以对数字IC进行功能测试并同时完成各项直流参数测试。ICT3100完全可以满足IC用户的参数测试要求。ICT3100是一种性能实用、操作简单、测试可信度高、成本低廉的测试仪器。
  
  主要特点:
  1.测试电源拉偏状态下,输出电平加载测试。
  2.对输出电流、输出电压直流参数进行测试的同时,完成真值表功能测试。
  3.真值表功能测试的同时,完成“三态”(高阻状态)漏电流测试。
  4.对IC输入电流、功耗电流测试。
  5.输入漏电流及交叉漏电流测试。
  6.测试过程无须人工干预。
  7.用户可以自选测试模式,使用方便、操作简洁。
  8.可自动识别74系列中的CMOS器件。
  9.可以查找未知IC的型号。
  目前ICT3100的作用单位已遍及通信、电子仪器、电力电子、办公自动化设备、计算机整机、交通电子、消防科学器材等各个领域,并获用户一致好。