电子散斑干涉术是继全息干涉术之后发展起来的一种实验力学新方法。它舍弃了传统的拍摄冲印照片复杂的湿处理过程，而直接依靠光学成像系统和计算机图像采集处理系统获得干涉条纹。这种方法已得到了较广泛的运用。用于解决工程中的强度和刚度问题，并可用于残余应力测量。

　　TS-SI-1Z型一维电子散斑干涉仪能实时观察代表离面位移的干涉条纹，配以稳定的三点弯曲梁加载实验装置和圆盘受均布载荷（气压）或集中力实验装置，使得整个系统稳定可靠，易于调节，可以获得很好的教学效果。

其他说明

主要技术参数指标:  ◆ 光源:半导体泵浦固体激光器(绿光)            输出功率 20mw , 波长 532nm ◆ 相机: 1280 × 1024 USB2.0 数字摄像头 ◆ 镜头: 25mm 定焦镜头(标配),可选配其它 C 接口镜头 ◆ 工作距离: 400 ~ 1500mm ◆ 相移器: 5nm ◆ 演示试件: 圆盘受均布载荷,三点弯曲梁 ◆ 范围:￠ 300mm ◆ 尺寸: 650cm × 430cm × 300cm  ◆ 重量:约 20kg