半导体原装线路板X-RAY膜厚测试仪
价格:电议
地区:广东省 深圳市
─美国博曼(Bowman)配有超大功率X射线光管和高灵敏度探测器,能够满足复杂样品和微小测试面积的检测需求。
─电制冷固态探测器确保的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。超大探测器灵敏窗口大幅提高了计数率,大多数的分析能在数秒或数分钟内完成。灵活组合运用五个初级滤波器,使X光管激发效率达到,得到优的应用效果。
─仪器测量直径小可达到150微米,可供选择的准直器直径有0.1、0.2、0.3和1.27毫米。特别设计的铝钛板在检测轻制样品时能大幅降低背景噪音,从而达到更低的检测下限。对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测 。
─仪器在设定的检测程序中可通过扫瞄功能性快速分析大面积的指定区域。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。扫瞄分析及元素分布成像功能能够快速识别复杂组件中的含铅的零部件或连接件。该款仪器内置数码影像装置,能够显示样品摆放位置及测试点位置。样品扫瞄映射成像图中可对各种待测元素设置不同颜色,然后形成单种或多种元素的组成及含量分布图。
─根据不同应用,您可以选择不同的分析方法:经验系数法、基本参数法或两者结合。如果您知道分析物的元素组成矩阵和含量范围,经验系数法是合金分类和元素含量分析的检测方法。当无法预知准确的元素组成或标准片不完备情况时,可选用基本参数法,通过仪器拥有的完整光谱数据库,对基材和镀层进行可信的厚度测量和元素定量分析,测试范围可以ppm至%。
─自由距离测量及超大型样品舱数据统计功能强大,包括平均值、标准偏差、柱状图和管理图表。数据及时导出,可以保存为Excel格式,并快速生成分析。用户能设置快捷键,对样品进行一键校准。用户界面提供9种操作言言大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品。可在0.5” 至3.5”(12.7mm to 88.9mm)范围内自由调节聚焦距离,来实现对样品不同表面的测量。样品舱内部空间580mmx510mmx230mm。封闭样品舱设计能彻底防止辐射污染,特别针对塑料等轻质样品的检测过程而设计。大舱门使样品更易放入。
─自定义程序能通过自定义清晰显示样品测试是否合格或不合格,还可设置其他针对特定被测元素的报警程序。生成软体,可证明用户在检测消费品是否含有有害元素的过程中所采取的尽职措施
特点详细介绍:
1.可测量0.01um-300um的镀层。
2.可做各种镀层(多层、合金、多层镍)的精密测量。
3.除平板形外,还可测量圆形、棒形(细线)等各种形状。
4.可制作非破坏性膜厚仪的标准板。
5.该电镀膜厚检测仪可检查非破坏式膜厚仪的测量。
6.可高测量其他方式不易测量的三层以上的镀层。
7.可对测量数据进行统计处理,以及和逐级进行共同管理。
8.标准板校正值的计算和设定可自动进行,非常简单。
9.有微处理器来进行计算、储存、思考。
10.本膜厚仪采用全对话是操作,因此,只要依据测量条件来进行设定就可测量情况,非常简单。
11.多可设定四层镀层,而每一层均可进行统计处理。例如:测量条件、平均值、值、小值、上下限值、直方圆均可进行计算并可有列印机印出,制作测量很容易。
12.每种镀层所需的电解液、敏感度及搅动标准的选择,均可由电镀膜厚检测仪的微处理器自动判断、设定。
13.测量数据可由通讯网路来传输,所以能和主机共同进行数据管理。
14.由于分解速度差距分得很细,因此可缩短测量时间。
15.可分离测量铜(合金)上的锡(合金)镀层间的扩散(合金)层。
16.由于可储存64个不同的测量情况,所以有相同的测量情况时,就不必再进行设定。每个测条件可储存9999个数据。