膜厚分析仪产品特点：
可检测元素范围：AL13 – U92.可同时测定5层/15种元素/共存元素校正.结合了大功率X射线管和高分辨率半导体探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。
电制冷固态探测器确保的信/躁比，从而降低检测下限。
探测器分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。
有害元素检测结果可到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。
您可以针对您的应用选择合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。
一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。

大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。

膜厚分析仪作为一种在线测量厚度的精密仪器，在电镀工艺生产中占有非常重要的地位，直接影响到电镀产品的质量。镀层控制系统接收到膜厚仪提供的实事厚度偏差信号对物料挤出机、物料加热器进行控制。信号的准确和灵敏程度直接影响了镀层产品厚度的。
x射线膜厚仪通过吧高压直流电压加在x射线的两极，产生不同能级的x射线穿过被测物，比较被测物两端x射线的强度来进行在线厚度测量。