X射线荧光光谱仪
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  产品特点:
  
  高分辨率探测器:美国原装电制冷Si-PIN探测器,配套原装数字式多道脉冲幅度分析器,检测结果和分析速度远比国内采用线性放电法(模拟)多道分析器精准和快速。
  
  精密稳定的高压电源:采用工业级专用X射线荧光分析的精密高压电源,为X射线光管提供长时间的稳定高压。
  
  低功率X射线光管:采用W/Rh靶X射线管,静音高速风扇制冷,设计寿命5万小时。
  
  高像素摄像头:内置高清摄像头以及微动样品移动装置,方便对样品扫描区域的实时准确定位和观察。 
  
  全方位的X射线防护体系:采用电源开关锁、精密样品盖开合检测等安全装置全方位防止X射线的泄漏,确保操作人员的安全。 
  
  超安全样品腔:采用独特的“山”字形设计样品腔与仪器接合,精密科学计算仪器外壳厚度,选择重量与安全平衡点,既保证仪器使用的安全,也有效减轻仪器重量。
  
  智能准直器、滤光片切换系统:智能软件切换系统,确保准直器和滤光片精准自动切换,无需人工干预,减少人为操作造成的失误和错误结果。采用新型滤光片,有效的降低X射线荧光本底,提高检测灵敏度。独特光学准直器,光束小直径达0.025mm,集中X射线光束,增强荧光强度,提高对微量元素的检测以及超薄镀层的分析。
  
  先进的光谱分析方法:紧跟国际前沿的X射线光谱分析方法,科学的对光谱进行元素定性、定量分析。由于采用了先进复杂的计算、校正算法,程度上减少了定量分析需要的标样,这在同行中处于地位。通过改进硬件,Pb、Cd等的检测灵敏度提高2倍。 
  
  无标样分析:真正意义上实现无任何标样的含量、镀层分析。对于含量分析,高含量元素相对误差范围可控制在1%以内;对于镀层分析,厚度相对误差范围可控制在10%以内。 
  
  **镀层厚度分析:选用专用的功能模块实现对镀层厚度的分析,使用户无需添加额外硬件即可进行镀层厚度分析。