膜厚仪(X-Strata980)
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  X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态确保的信/躁比,从而降低检测下限。分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。
  应用:
  --RoHS/WEEE
  --有害元素痕量分析
  --焊料合金成分分析和镀层厚度测量
  --电子产品中金和钯镀层的厚度测量
  --五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
  --贵金属合金分析和牌号鉴定
  产品特点:
  --100瓦X射线管
  --25mm2PIN
  --多准直器配置
  -扫描分析及元素分布成像功能
  --灵活运用多种分析模型
  --清晰显示样品合格/不合格
  --超大样品舱
  --同时分析元素含量和镀层厚度
  技术参数:
  --元素范围:S(16)to U(92)
  --可测镀层层数:5层(4层+底材),可同时分析25种元素成份
  --X射线管功率:100W(50kV and 2mA)微焦点钨靶X射线管
  --:25mm2 PIN 电制冷固态
  --滤波器/准直器:多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格(0.1,0.2,0.3,1.27mm)
  --数字脉冲处理器:4096多道数据分析功能;自动数据处理,包括死时间修正
  --电脑/显示器/系统软件
  Celeron,1.86 GHz,40 GbHD,512MB RAM,相同或更高配置
  15"LCD,1024 x 768
  MicrosoftTM XP SP2
  --摄像系统:1/2"CMOS-640x480 VGA resolution
  --电源:85~130V or 215~265 V,频率47Hz to 63Hz
  --工作环境:10−40℃、相对湿度小于98%,无冷凝水
  --XYZ轴行程:203 x 152 x 216 mm(8 x 6 x 8.5")
  --样品尺寸
  305 x 390 mm(12 x 15.4"),样品高度为 50mm(2")
  305 x 352 mm(12 x 13.9"),样品高度为 203mm(8")
  --舱室尺寸:(W x D x H):584 x 508 x 220mm(23 x 20 x 8.7")
  --外型尺寸
  高765mm(30.1")
  宽 700mm(27.5"),840mm(5.5")
  深790mm(31.1"),990 mm(39")