CMI920测厚仪，镀层测厚仪的详细描述：
　　　
　　X射线荧光分析仪　X-Strata920是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。
　　　　
　　行业
　　
　　X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920为这些行业提供了：
　　
　　以更有效的过程控制来提高生产力有助电镀过程中的生产成本小化、产量化快速无损地分析珠宝及其他合金快速分析多达4层镀层经行业的技术和可靠性，确保每年都带来收益操作简单，只需要简单的培训
　　卓越的性能
　　
　　快速、的分析：
　　
　　大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供灵敏度
　　
　　简单的元素区分：
　　
　　通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
　　
　　性能优化，可分析的元素范围大：
　　
　　X-Strata920预置800多种容易选择的应用参数/方法
　　
　　卓越的长期稳定性：
　　
　　自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
　　
　　例行进行简单快速的波谱校准，可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正
　　
　　坚固耐用的设计
　　
　　可在实验室或生产线上操作
　　
　　坚固的工业设计
　　　　
　　产品牛津CMI920测厚仪，镀层测厚仪。介绍完毕