XT-50冲击试样缺口投影仪
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XT—50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T229—2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U型缺口加工质量的光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便,对比直观。


二.方案描述:

本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体,再以物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。根据需要,本仪器为单一投射照明,光源通过一系列光学元件投射在工作台上,再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。将被测度样放在工作台上,旋转工作台升降手轮,调焦至影像清晰,再调整圆工作台和纵横向调节手轮,使已放大了50倍的试样V型(或U型)缺口投影图与本仪器所提供的也放大了50倍的冲击试样缺口标准尺寸图对比,即判断出冲击试样V型(或U型)缺口的几何尺寸加工质量。

三.主要技术参数:

1、投影屏直径:180mm                  

2、光源(卤钨灯):12V     100W
1.3、工作台尺寸:                      

a)       方工作台尺寸:110×125mm    

b)       圆工作台直径:90mm                  

c)       工作台玻璃直径:70mm

4、工作台行程:

a)       纵向:±10mm

b)       横向:±10mm

c)       升降:±12 mm(无刻度)

5、工作台转动范围:0~360°(无刻度)

6、电源:220V 50Hz

7、外形尺寸:515×224×603mm          

8、重量:约18kg

9、仪器放大倍率:       50x

物镜放大倍率:       2.5x

投影物镜放大倍率:   20x