便携式X荧光分析仪(CIT-3000SMP)
价格:电议
地区:
传 真:86-28-84205895
主要特点
可直接对现场块矿、矿壁进行测量,也可以对粉样直接或制样测量。
一体化设计,蓝牙通讯,性能稳定,运行可靠,性价比高。
高性能掌上电脑配备全中文应用软件,操作简单,测量时间短。
采用1024道多道分析器;
分析元素:S、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Pb等。
采用Si(Li)半导体探测器,能量分辨率高:优于150eV(55Fe)。
分析范围:0.01%-99.9%
测量范围:2-30kev.
重复性:<0.1%。
稳定性:<0.01%。
测量时间:<200S.
整机功耗:4W.
仪器重量:3.5Kg。