便携式X荧光分析仪(CIT-3000SMP)
价格:电议
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电 话:86-28-84205915
手 机:86-13982268872
传 真:86-28-84205895
  主要特点
  可直接对现场块矿、矿壁进行测量,也可以对粉样直接或制样测量。
  一体化设计,蓝牙通讯,性能稳定,运行可靠,性价比高。
  高性能掌上电脑配备全中文应用软件,操作简单,测量时间短。
  采用1024道多道分析器;
  分析元素:S、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Pb等。
  采用Si(Li)半导体探测器,能量分辨率高:优于150eV(55Fe)。
  分析范围:0.01%-99.9%
  测量范围:2-30kev.
  重复性:<0.1%。
  稳定性:<0.01%。
  测量时间:<200S.
  整机功耗:4W.
  仪器重量:3.5Kg。