应用领域

？RoHS指令筛选检测（具备Mapping功能）

？无卤指令筛选检测（具备Mapping功能）

？玩具指令筛选检测
应用领域

？RoHS指令筛选检测（具备Mapping功能）

？无卤指令筛选检测（具备Mapping功能）

？玩具指令筛选检测

？日用消费品中限制元素筛选检测

？合金成分分析

   特别适用于：

？CN-RoHS国家指定检测实验室

？大型企业集团中心检测实验室


分析方法及系统软件

分析方法配置：

？ 基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法

？ 经验系数法

？ 理论α系数法

软件功能描述：

？ RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析

？ 各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）

？ 聚合物等有机材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析

？ 分析的自主定制与输出打印

？ 分析结果的保存、查询及统计

？ On-Line实时在线技术支持与技术服务功能

？多层镀层厚度测量功能


主要配置

？SDD硅漂移电制冷半导体探测器

？侧窗钼（Mo）靶管

？标配16组复合滤光片

？配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器

？具有自动Mapping功能

？具备符合中国国家标准的样品混侧功能

？内置标准工作曲线

？配置On-line实时在线技术支持与服务平台

？具备开放工作曲线技术平台

？分析软件操作系统分级管理


产品参数

？名称：X荧光光谱仪

？型号：NDA500

？输入电压：220±5V/50Hz

？消耗功率：≤500W

？环境温度：15-30℃

？环境湿度：≤80%（不结露）

？主机外形（mm）:长＊宽＊高=900*500*440

？样品仓（mm）:长＊宽＊高=430*380*120

？主机重量：约60公斤


技术指标

？元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素

？测量时间：

       对聚合物材料，典型测量时间为30秒

       对铜基体材料，典型测量时间为30秒

？检出限指标（LOD）：

       对聚合物材料：LOD（Pb）≤5mg/Kg；LOD（Hg）≤5mg/Kg；LOD（TCr）≤5mg/Kg；LOD（TBr）≤5mg/Kg；LOD（Cd）≤5mg/Kg

       对铜基体材料：LOD（Pb）≤50mg/Kg