性能特点：
　　国际的定量分析算法，包含FP法、检量线法、经验系数法、理论系数法、神经网络算法等RoHS检测，亦可用于镀层检测和全元素分析；自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成
　　内置信噪比增强器可有效提高仪器信号处理能力25倍以上
　　针对不同样品可自动切换准直器和滤光片
　　电制冷SDD半导体探测器，摒弃液氮制冷
　　RoHS检测专用软件与仪器硬件相得益彰，操作简单
　　
　　产品参数：
　　产品名称：X荧光光谱仪
　　型号：DX-320L
　　输入电压：220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）
　　消耗功率：≤400W（包含电脑）
　　环境温度：15°C-30°C
　　环境湿度：35%-80%
　　重量：62kg

　　独特配置：
　　信噪比增强器
　　独特的光路增强系统
　　电制冷SDD半导体检测器
　　内置高清晰摄像头
　　自动切换准直器和滤光片
　　精准的移动平台
　　加强金属元素感度分析器
　　任意多个可选择的分析和识别条件模型
　　
　　技术指标
　　元素含量分析范围：2ppm-99.99%
　　RoHS指令规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限达2ppm
　　测量时间：60-200s
　　能量分辨率：127±5eV
　　X光管管压：5-50kV、寿命可达5万小时。
　　X光管管流：0-1000MA
　　整机2年保修，终身维护。（保固期会不定期上门给仪器校验与保养）。