介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT　1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法.

　　一、介电常数介质损耗试验仪概述
　　GDAT高频Q表作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内的160MHz.
　　GDAT高频Q表采用了多项技术：
　　双扫描技术-测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。
　　双测试要素输入-测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。
　　双数码化调谐-数码化频率调谐，数码化电容调谐。
　　自动化测量技术-对测试件实施Q值、谐振点频率和电容的自动测量。
　　全参数液晶显示–数字显示主调电容、电感、Q值、信号源频率、谐振指针。
　　DDS　数字直接合成的信号源-确保信源的高葆真，频率的高、幅度的高稳定。
　　计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路残余电感减至，彻底根除Q读数值在不同频率时要加以修正的困惑。
　　gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了完美的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具，测量值更为，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。
　　该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
　　
　　主要技术特性
　　Q值测量范围　2～1023，量程分档：30、100、300、1000，自动换档或手动换档
　　固有误差≤5％±满度值的　2％（200kHz～10MHz），≤6％±满度值的2％（10MHz～160MHz）
　　工作误差≤7％±满度值的2％（200kHz～10MHz），≤8％±满度值的2％（10MHz～160MHz）
　　电感测量范围　4.5nH～140mH
　　电容直接测量范围　1～200pF
　　主电容调节范围　18～220pF
　　主电容调节准确度　100pF　以下±1pF；100pF　以上±1％
　　信号源频率覆盖范围　100kHz～160MHz
　　频率分段（虚拟）100～999.999kHz，1～9.99999MHz，10～99.9999MHz，100～160MHz
　　频率指示误差　3×10-5±1个字
　　搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用。
　　
　　一、概述
　　BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。
　　BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据。
　　BD916介质损耗测试装置技术特性
　　平板电容器：极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm　可选
　　极片间距可调范围：≥15mm
　　2.夹具插头间距：25mm±0.01mm
　　3.夹具损耗正切值≤4×10-4（1MHz）
　　4.测微杆分辨率：0.001mm
　　电感：
　　线圈号测试频率　Q值分布电容p　电感值
　　9　100kHz　98　9.4　25mH
　　8　400kHz　138　11.4　4.87mH
　　7　400kHz　202　16　0.99mH
　　6　1MHz　196　13　252μH
　　5　2MHz　198　8.7　49.8μH
　　4　4.5MHz　231　7　10μH
　　3　12MHz　193　6.9　2.49μH
　　2　12MHz　229　6.4　0.508μH
　　1　25MHz，50MHz　233，211　0.9　0.125μH