AT-3800型X荧光测厚仪利用X射线快速、、无损的测试镀层/涂层厚度，可以测试多层镀层、合金镀层等复杂模式。是一款高端的X射线膜厚仪。
　　X荧光测厚仪性能指标
　　镀层种类：单金属、合金、无机薄膜
　　可测镀层：多5层金属镀层、金属基体上单层无机薄膜
　　：可达0.005um
　　厚度相对误差：单层5%，多层5～10%
　　厚度范围：0.01～50um
　　含量检出限：2ppm
　　含量相对误差：5～10%
　　小测量直径：0.1mm
　　分析时间：30～200S
　　X射线膜厚仪技术参数
　　探测器：进口半导体探测器，分辨率达139eV
　　X光管：钨（W）靶，电压50kV，电流1.5mA
　　高压电源：精密X射线专用电源，输出电压50kV
　　对焦系统：激光对焦
　　滤光片：6组滤光片电动切换，有效降低背景干扰
　　准直器：采用新的高科技X射线聚焦晶体，小分析面积至0.1*0.1mm＾2
　　样品台：高步进电机驱动，XY轴二维移动，步长至0.05mm
　　样品观察：高清晰彩色CCD射线头
　　输入电压：AC　220V/50Hz
　　功耗：300W
　　样品腔尺寸：660×400×135mm
　　外型尺寸：680×460×475mm
　　重量：45Kg
　　X荧光测厚仪功能特点
　　的光路系统，增大X射线强度，减少散射背景；
　　紧密封闭的腔体设计、电路控制、机械控制三重X射线防护；
　　对分析样品的状态、形状、大小、厚度自动进行校正，减少因制样不足而带来的误差。
　　自动安全的高压防护电路设计；
　　高步进电机移动样品台，实现um级的移动；
　　先进的激光定位系统，定位细小局部；
　　X荧光测厚仪应用范围
　　电镀、真空镀、化学镀、纳米喷镀
　　电子、电器、五金、线材、汽车、珠宝首饰等行业的金属镀层、无机镀膜X射线镀层测厚仪分析