JEM-2100F　透射电子显微镜
　　JEM-2100F是一款先进的透射电子显微镜，主要特点是可以快速地获得超高分辨率图像。JEM　2100F是新一代透射电子显微镜，使原子尺度的结构分析更简便，在生物学、医学和材料学的研究，以及半导体和制药工业中很有用。
　　JEM-2100F的束斑尺寸在0.5nm以下，在同类200kV透射电子显微镜中，它的分析功能强、获得的图像质量。新型的侧插式测角样品台，便于样品的倾斜、旋转、加热、冷却和多点程序设定，且机械飘移极小。JEM-2100F可以连接STEM，MDS，EDS，EELS，和　CCD相机等许多附件。
　　规格型号及技术参数：
　　UHR
　　（超高分辨型）
　　HR
　　（高分辨型）
　　HT
　　（高倾斜型）
　　分辨率
　　点分辨率
　　0.19nm
　　0.23nm
　　0.25nm
　　线分辨率
　　0.1nm
　　0.1nm
　　0.1nm
　　加速电压
　　（80，100，120）*160，200kV
　　加速电压小步长
　　50V
　　电子枪
　　电子枪发射体
　　ZrO/W（100）Schottky
　　亮度
　　≥4×108A/（cm2.sr）
　　真空度
　　10-8Pa　数量级
　　束流
　　≤0.5nA（束斑尺寸为1nm时）
　　稳定度
　　加速电压稳定度
　　≤2×10-6/min
　　物镜电流稳定度
　　≤1×10-6/min
　　物镜
　　物镜焦距
　　1.9mm
　　2.3mm
　　2.7mm
　　球差系数
　　0.5mm
　　1.0mm
　　1.4mm
　　色差系数
　　1.1mm
　　1.4mm
　　1.8mm
　　小聚焦步长
　　1.0nm
　　1.4nm
　　1.8nm
　　束斑尺寸（直径）
　　TEM　模式
　　2~5nm
　　EDS/NBD/CBD　模式
　　0.5~2.4nm
　　0.5~2.4nm
　　1.0~2.4nm
　　会聚束电子衍射（CBED）
　　会聚角（2a）
　　1.5~20　mrad
　　接受角
　　±10°
　　放大倍数
　　LOW　MAG　模式
　　×50~6，000
　　×50~6，000
　　×50~6，000
　　MAG　模式
　　×2，000~1，500，000
　　×2，000~1，500，000
　　×1，500~1，500，000
　　SA　MAG　模式
　　×8，000~800，000
　　×8，000~800，000
　　×6，000~800，000
　　相机长度
　　SA　DIFF模式
　　80~2，000mm
　　80~2，000mm
　　100~2，500mm
　　HD衍射模式
　　4~80m
　　HR衍射模式
　　333m
　　样品室
　　X、Y方向样品平移
　　2mm
　　Z方向样品平移
　　±0.1mm
　　±0.2mm
　　±0.2mm
　　样品倾斜角度
　　X；±25°
　　Y；±25°
　　X；±35°
　　Y：±30°
　　X；±42°
　　Y；±30°
　　扫描透射装置（STEM）
　　明场像分辨率
　　0.2nm
　　X射线能谱分析
　　固体角（30/50mm2）
　　0.13sr/0.24sr
　　0.13sr/0.28sr
　　0.13sr/0.28sr
　　取出角（30/50mm2）
　　25°/22.3°
　　25°/24.1°
　　25°/25°