能量色散X射线荧光光谱仪：X射线光谱分析技术作为直接应用X射线的一门分支学科和一种实用分析技术，目前已在地质、冶金、材料、环境、工业等无机分析领域得到了极其广泛的应用，是各种无机材料中主组分分析重要的手段，在痕量和超痕量分析中发挥着十分重要的作用。尤其是在无损分析和原位分析方面，X射线荧光光谱技术具有无可替代的地位。HeLeeX　E8是一款通用型RoHS仪器。其光路系统集合国内外几十年RoHS检测仪技术，部件采用美国进口，软件算法采用国际RoHS检测仪前沿技术，HeLeeX　E8　RoHS检测仪器所用标准样品均有权威第三方检查机构；HeLeeX　E8精密度、准确度、检出限等技术参数全面超越国内外同类RoHS仪器。
　　
　　仪器硬件配置
　　 3.1、探测器
　　类型：Si-PIN探测器（采用原装风进口高性能电致冷半导体探测器）
　　Be窗厚度：1mil
　　晶体面积：25mm2
　　分辨率：149eV
　　信号处理系统DP5
　　
　　3.2、X射线管
　　电压  ：0~50kV
　　电流  ：2.0mA
　　功率  ：50W
　　靶材  ：Mo
　　Be窗厚度  ：0.5mm
　　使用寿命  ：大于2万小时
　　
　　3.3、高压电源
　　输出电压：0~50kV
　　灯丝电流：0~2mA
　　功率：50W
　　纹波系数：0.1%（p-p值）
　　8小时稳定性：0.05%
　　3.4、摄像头
　　微焦距
　　免驱动
　　500万像素
　　3.5、准直器、滤光片
　　快拆卸准直器、滤光片系统
　　多种材质准直器
　　光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm
　　多种滤光片、准直器组合，软件自动切换
　　3.6、其他配件
　　   进口高性能开关电源
　　   进口低噪声、大风量风扇
　　四、软件配置
　　软件名称：HeLeeX　ED　Workstation　V3.0.
　　应对指令：RoHS检测（Pb、Cd、Hg、Cr、Br）、无卤检测（Br、Cl）。
　　开放式分析模型。
　　多种数据算法，根据不同基体样品，配备不同算法，提高仪器测试精准度。
　　数据一键备份、一键还原，增加数据安全性。
　　操作界面简洁，使用方便。
　　软件帮助功能。