产品名称：X荧光光谱仪
　　产品型号：NaU1000
　　品牌：纳优
　　主要配置
　　●美国si-pin电致冷半导体探测器
　　●侧窗钼（Mo）靶管
　　●标配12组复合滤光片
　　●采用Be窗的X光管可以显著提高低能X射线出射长度
　　●具备符合中国国家标准的样品混测功能
　　●具备开放工作曲线技术平台
　　●分析软件操作系统分级管理。
　　
　　产品参数
　　名称：X荧光光谱仪
　　输入电压：220±5V/50Hz
　　消耗功率：≤500W
　　环境温度：15-30℃
　　环境温度：≤80%（不结露）
　　主机外形（mm）：长*宽*高＝820*500*425
　　样品仓：长*宽*高＝430*380*105
　　主机重量：约55公斤
　　技术指标
　　测量元素范围：S-U
　　测量时间：对聚合物材料，典型测量时间为200秒
　　精密度（Pb，Br，Cr，Hg）≤15ppm Cd≤7ppm
　　准确度（Pb，Br，Cr，Hg）≤100ppm Cd≤10ppm
　　对铜基材料，典型测量时间为400秒
　　精密度Pb≤50ppm，准确度Pb≤150ppm。

其他说明

RoHS+无卤检测仪器基本技术指标
1,仪器尺寸	900mm*500mm*440mm
2,样品腔尺寸	430mm*380mm*120(h)mm
3,重量	约60Kg
4,工作环境温度及相对湿度	温度15-30℃;相对湿度≤ 80%  (不结露)
5,可分析元素范围	S-U
6,检出限	Cd/Cr/Hg/Br≤ 2ppm  ,Pb≤ 5ppm  ,Cl≤ 60  ppm
7,测量时间	100-400s(软件自动调整)
8,分辨率	149± 5eV
9,输入电源与额定功率	AC  220V± 10%,50Hz  (建议配置净化稳压电源),300W
10,软件	1.0版RoHS与无卤分析软件(具备开放式工作曲线)
11,增配功能	1,多元素分析软件    (材质分析)      2,镀层(膜厚)测试软件