供应LED芯片光色电测试系统 LED芯片测试
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         本系统由SSP3112型LED光色电特性分析系统和LED芯片测试平台组成。光强测量选用近场测量条件,光纤耦合。

基本功能:1、快速(1-2S)测量芯片的光参数、电参数和色参数,并在软件上显示出数值以及光谱曲线。可测量参数包括正向电压、正向电流;光强(mcd)、光通量(lm);峰值波长、主波长、半宽度(带宽)、色温、色坐标(x , y)或(u ,v)值、色纯度、显色指数等。 2、用户可根据需要对波长和色坐标自行多256档位的分档,测试的同时软件会按照客户的分档范围自行显示档位。3、系统具有数据库功能,可以显示、保存、查询、打印测量的各项参数和光谱图形。4、软件自动生成报表,并可直接连接打印机进行打印。