EXF7800型测金仪器的分析原理：荧光发射器发出的光照射金属靶材，探测器探测到靶材所发出的各种能量特征X射线，探测器输出信号幅度与接收到的X射线能量成正比，利用能谱仪分析探测器输出信号的能量大小和强度，对样品进行定量分析和定性分析。

EXF7800型测金仪器的技术参数:

分析范围：0.01%～99.99%
测量时间：自适应

元素分析：从Al～U的所有元素
测量：±0.001%～0.1%
X射线源：Mo靶的X射线光管

风冷（无辐射）

摄像头：高清晰摄像定位系统，工作可靠，效率高

双屏显示设计，造型时尚。集成工业计算机，无需外接电脑；带门锁电锁，自动开盖装置，使日常管理更便捷；超高的分辨率可以轻松解决贵金属行业无损检测的任何复杂要求，为贵金属行业光谱仪。

探测器：Si-PIN探测器；半导体制冷

高压器：4～80Kv
分析：多通道模拟

软件：XRF6.0菜单式软件，带硬件参数调整和数据评估及计算

镀层测量：镀层厚度范围<30um
温度：5～46℃
电压：100～127V或220～240V,50/60Hz

功率：144W

重量：57公斤
尺寸：500*500*450mm
操作系统：Windows2000/Me/XP

测金仪器的显著特征是、快速和无损分析，表现如下：

1、真正实现现场,快速,无损,准确的检测,直接显示合号,元素,百分比含量。

2、只需直接接触待测物表面，即可现场确定合金等级、元素种类。

3、惊人的检测速度。工作1秒种即可显示样品中的成份。

4、更低的探测器温度。-35℃的超低温工作状态，使仪器具有卓越的解析度。

5、可承受恶劣的工作环境。耐磨防刮花的超硬塑料外壳、密封的仪器可在雨天、尘土飞扬工装场地也能正常工作。

6、检测下限提高了2~4倍。

7、更高的检测，多次测试的平均值统计功能可有效地提高仪器的检测。

8、超大的图标显示，菜单式驱动，微电脑WINDOWS系统使仪器操作更加简便。

9、不规则或者很小样品的智能探测，象头发丝(0.06MM)这样细的丝也能立即测试辨认。

10、可鉴定数千个不同的合号,可同时检测的牌号高达556种,用户可自行定义300种合号。

11、交流电源让你在室内环境中为仪器提供更多的选择。

12、无需借助电脑，可在现场随意指定，查看，放大相关元素的光谱图。

13、仪器具有更强的散热能力、抗震动能力、自动防幅射保险装置。

14、可选择的微型打印机可让你时时打印数据。

测金仪器的测量结果的处理：因为被测的首饰产品各异，以及使用的光谱仪器不一样，另外检测人员的素质水平高低，对检测结果的接收范围建议在以下范围内选取。随贵金属含量的减少，可接收的范围将增大。测量结果的误差范围为0.1%—3%，也可以根据委托方的协议确定。对结果如有争议，应以GB/T 9288、GB/T 11886和QB/T 1656（《贵金属检测国标文件》）的分析结果为准。