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CV-3100/4100日本三丰轮廓仪 轮廓测量仪
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Contracer CV-3100/4100为高轮廓测量仪，通用行业领域中，它率先在Z轴上安装了数显标

技术参数：
 

（CV4100系列特别安装了高激光全息摄影光栅尺）。有效保证了全部测量范围内的高分辨率和高产品特点  ·CV-3100 Contracer—Z轴检测装置中的数显标尺确保了总行程为+25mm时分辨率可高达0.0002mm。·CV-4100系列Contracer—Z轴检测装置中的激光全息光栅尺是一种新型的高标尺。它基于衍射  光干涉现象设计，有效保证了全部测量范围内高达0.0005mm的分辨率。·无需根据记录倍率改变Z轴无分辨率。无序切换范围，有效提高可操作性。·用于FORMPAKR-1000轮廓分析程序兼容WindowsR95/98/NT4.0/2000操作系统，便于测量。·可通过外置控制箱进行定位、开始/结束测量、返回以及远程进行其它操作。·采用陶瓷导轨有效防止摩擦。·垂直测壁为标准配置，可用于20mm测量探针（996506）和单边切割测量探针（354884）。 测量范围：X轴：100mm  200mmZ轴：（检测器）正负25mmZ2轴：（立柱）移动量300mm500mm500mm300mm500mm500mmX轴倾斜范围：正负45度标尺X轴：光栅尺Z1轴：（检测器）光栅尺（CV-3100系列），激光全息光栅尺（CV-4100系列）Z2轴：（立柱）ABS光栅尺分辨率：X轴0.05umZ1轴：（检测器）0.2um（CV-3100系列），0.05um（CV-4100系列）Z2轴：（立柱）1um驱动速度：X轴0-80mm/s和手动Z2轴：（立柱）0-20mm/s和手动测量速度：0.02-5mm/s直线度：（X轴在水平方向上）0.8um/100mm  2um/200mm指示：（20摄氏度时）CV-3100系列 X轴 正负（1+0.01L）um L=驱动长度（mm）宽范围：2um/100mm窄范围：1.25um/25mm 正负（1+0.02L）um L=驱动长度（mm）宽范围：5um/200mm窄范围：1.5um/25mmZ1轴：（检测器）正负（2+14H/100）um H：水平位置上的测量高度（mm）指示：（20摄氏度时）CV-4100系列 X轴 正负（0.8+0.01L）um L=驱动长度（mm） 宽范围：1.8um/100mm窄范围：1.05um/25mm 正负（0.8+0.02L）um L=驱动长度（mm）宽范围：4.8um/200mm窄范围：1.3um/25mmZ1轴：（检测器）正负（0.8+10.5HI/25）um  H：水平位置上的测量高度（mm）