基于U盘FLASH通用测试架
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传 真:86

封装兼容设计,只要换座头,可兼容测试TSOP48,
BGA63/100/107/137/149/152/169/225,大小SD
卡TF19/21/22/24/27/30,LGA52/60测试座的FLASH
的测试及量产;

大小兼容设计,只要换限位框,即可测试外形尺寸
不同的LGA/BGA FLASH;

主控板兼容设计,只要更换主控板的主控IC,可实现
安国、芯邦、群联、ITE、SMI、银灿3.0方案可互换;

采用一拖四架构设计,省去外置HUB ,每台电脑可
同时量产16PCS Flash 芯片,效率倍增。