米特尔LE1000-2硅片薄膜测厚仪
价格:电议
地区:广东省 广州市
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  名:接触式厚度测试仪

  牌:美国米特尔MITEL

  号:LE1000-2

原产地:美

 

一、米特尔LE1000-2硅片薄膜测厚仪特点:

 新式的高内部光学测量仪器。通过电缆释放装置(cable release)或空气压力连接柱塞驱动。适用于薄膜厚度、位移、位置及尺寸的测量。LE 1000-2是大部分测量应用的理想仪器。是具性价比的机械测量法塑胶薄膜和薄片厚度测定仪器。

美国Measureitall公司在接触式测厚仪领域积累丰富的经验,产品每年以40%的速度高速增长。销量的测厚仪是LE1000-2接触式测厚仪,因为性价比高、准确度 高、低力值接触/受压能力。居于行业领导地位,在北美和欧洲市场广泛应用于:塑料胶片、塑料膜、硅片生产商。 
    

 

二、功能及优势:

系统高:优于± 0.2 μm

固定支架:直径80mm的坚固钢圈及铸钢基座,适用于的重复测量。

线性:贯穿整个12mm25mm的测量范围。

操控简便:提供控制器的用户友好设置界面,可设置单位及其它特性。

压强极低:LE 1000-2的修正版本可提供“压强”,适用于薄膜厚度测定

RS-232 输出:可连接计算机或数据采集系统

数据采集系统:传输实时数据到Excel?, Access?或其它Windows适用程序,可同时将信息发送到CSV 磁盘文档 (可选择)

自动归零按钮:仪器闲置时可自动归零,轻易实现测量的增减。

柱塞驱动:通过电力释放装置,或工作部件,或气压

米特尔LE1000-2硅片薄膜测厚仪测量范围更长:60mm100mm适用

LCD显示:可显示测量结果、设置参数及操控功能。

完整的系统:包括传感器、控制器、支架、钢索起重器(with MT12/25)std. 测量端

探头感应面积:5平方毫米

样品规格:50平方厘米。

 

三、满足标准:

ASTM D645ASTM D374ASTM D1777ISO 4593ISO 534ISO 3034DIN 53105

GB/T 6672GB/T 451.3GB/T 6547JISBS等标准。

 

 

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广州峰仪机电科技有限公司

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