主要特性

■ 双晶与单晶探头

■ 坚固耐用，设计符合IP67标准

■ 厚度测量范围0.08毫米到635毫米

■ 彩色透反VGA显示

■ 可与双晶和单晶探头兼容。

■ 宽泛的厚度测量范围: 0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定。
■ 使用双晶探头进行腐蚀测厚。
■ 穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料。
■ 内部氧化皮/沉积物软件选项。
■ 对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米。
■ 使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的    厚度测量。
■ 多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量。
■ 高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料。
■ 厚度、声速和渡越时间测量。
■ 差分模式和缩减率模式。
■ 时基B扫描模式; 每次扫查可获得10000个可查读数。
■ 带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术。
■ 用于自定义V声程补偿的V声程创建功能。
■ 设计符合EN15317标准。