DTS 320 显示屏测量系统
价格:电议
地区:上海市
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DTS 320 NVIS - 0,01 fL下 NVIS 测量的标准仪器

DTS 320 NVIS 建立在带有制冷 PMT3 光电倍增器的扫描式高端分光辐射谱仪 Spectro 320 和成像光学探头 TOP 200 基础之上专门用于按照 MIL-L-85762A 以及 MIL-STD-3009 规范测量显示器和仪表盘。

 

DTS 320 NVIS 以其完美的性能稳居军事航空工业和测试实验室标准测量系统的位置。它拥有极高的测量敏感度,即便 0,01 fL 的情况下也能测量 NVIS 的辐射亮度。此外,它还是能够测量玻璃仪表盘 LCD 显示器 NVIS-Black 值的分光辐射谱仪。

DTS 320 NVIS 高的扫描速度和信号敏感度使其可以在一分钟内完成 NVIS 辐射亮度 NR-A, NR-B NR-C的超测量。DTS 320 NVIS 标准配置中的光电倍增器冷却设备-5o C使其也可以用于移动测量。此外,如有需要还可以选用带有更低信号噪声的外部冷却设备 -10o C)

DTS 320-202 NVIS 技术参数:

DTS320-202 NVIS

光谱范围

380 - 930 nm

波长

+/- 0.2 nm

光谱分辨率

0,5 到 10 nm 可编程

辐射亮度灵敏度

10E-12 W/cm2 sr nm
10E-13 W/cm2 sr nm (使用 DFI *) 的情况下)

光亮度灵敏度

0,005 cd/m2 以及 0,0015 fL

光亮度和色品坐标测量时间

5 Sek. @ 1 cd/m2 (0,3 fL)

NVIS 辐射亮度测量时间

1 - 2 min

*) DFI:Direkt-Fiber-Input, 直接光纤输入,使用配有截面变流器的光纤束 OFG-625。

品牌/商标

instrumentsystems

企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

德国