FRT光学表面量测仪器 表面轮廓仪 原子力显微镜 膜厚测量 粗糙度测量 3D形貌 mems
价格:电议
地区:上海市
电 话:021-58200880-886
手 机:18616823896

详细信息

仪器简介:

功能 

◆ 三维轮廓 ◆ 粗糙度(Roughness)
◆ 形貌(TTV,BOW,Warp) 
◆ 膜层厚度(Film Thickness) 
◆ 原子力显微镜(AFM) 

应用
◆ 汽车工业 ◆ 半导体加工
◆ 精密光学 ◆ MEMS 
◆ 钢铁工业 ◆ 造纸业
◆ 生物学 ◆ 纳米技术
◆ 模具加工 ◆ 材料分析



技术参数:

作为光学表面测量仪器的生产厂商,德国FRT公司拥有世界先进的纳米测量技术和。

其设备内部可选的不同的功能模块可以高非接触量测表面的粗糙度平坦度、膜厚、翘曲形变。

FRT与强大的伙伴合作,在表面测量领域处于先锋。



主要特点:

◆ 非接触式光学量测,被测零件无痕无损坏;
◆ 客户化定制;
◆ 多达25种不同功能的测量传感器,提供灵活的配置选择;
◆ 纳米高测量;
◆ 测量速度快;
◆ 可测量大口径和大尺寸零件。

品牌/商标

FRT

企业类型

制造商

新旧程度

全新

原产地

德国