美国X荧光光谱仪X荧光光谱仪
价格:电议
地区:
电 话:86-0769-82181020
产品品牌:
美国
产品型号:
X荧光光谱仪

光谱仪技术配置

1. 探测器 -- SDD硅漂移探测器(电制冷,只需要通电即可) --典型分辨率:123ev,133ev(50000CPS). --输入计数率:100KCPS,远大于Si-Pin与Si-Li(是其10倍左右) --峰背比:>20000 --铍窗厚度:8um Dura Be(一般的探测器在25um,对轻元素有更好的透过率,独特的Dura技术  Be窗可以耐酸,碱的腐蚀) --处理器:数字电路,放大倍数,时间常数可任意设置。 --高寿命,借助于其独特的Dura Be技术,探测器在几年的时间内探测器的真空不会变坏,晶体不会损伤,无需担心后期的维护费用 2. X射线管 --高压:0-50Kv连续可调 --电流:0-1000uA连续可调(0-2500uA可选,大电流对Na-K有更好的激发效果) --功率:50W --稳定性:8小时0.2% --高寿命,正确操作的情况下寿命可以达到50000小时 3. 高压发生器 --输入电压:24VDC --输入电流:4A --输出电压:50Kv1mA(2.5mA可选,适配2500mA光管) --功率:50W --稳定性:8小时0.05% 4.精密结构设计 --垂直倒角设计,精密的控制保证优异的重复性,上照式设计可以完全避免灰尘的污染,使得仪器可以做到真正的免维护 5.冷却散热系统 --良好的多级温控自反馈电路,室温在5-25度,仪器结果不会有影响。 6.自动进样系统 --8样品自动进样 二、           光谱分析系统控制和数据处理系统 --12位模/数转换器 --17英寸显示器 -- PentiumE5200计算机 --250G以上硬盘驱动 --多功能标准键盘 --打印机 三、         分析软件
--元素测量范围:Na-U --可对RoHS指令中的五种有害元素进行精准测试 --可以测量镀层厚度 --标准曲线法,理论系数法,基本参数法,多元比例法使您轻松应对各种样品的分析 --开放式软件设计,您可以自己开发新的工作曲线
--内置式参数设计,您在自己制作工作曲线时,各种干扰自动扣除。 四、尺寸规格 --900mm550mm680mm 五、           重量 重量约100kg 六、电源要求 --220V±10% 50Hz 七、工作环境 --温度范围:530 --相对湿度小于等于80%