产品品牌：

德国蔡司（ZEISSE）

产品型号：

EVO

类型：

电子显微镜

EVO® MA & LS系列基本规格
 
分辨率
 3.0 nm(2nm) @ 30 kV SE和W（LaB6）
4.5 nm      @ 30 kV BSD（VP模式）
15nm       @ 30 kV 1nA, LaB6
20nm(15nm) @   1kV SE和W（LaB6）
10nm       @   3kV SE
 
加速电压
 0.2 - 30 kV 
 
放大倍数
 ﹤7 - 1,000,000 x / ﹤5 - 1,000,000 x 
 
X射线参数
 工作距离8.5 mm / 出射角35° 
 
OptiBeam®模式
 分辨率（Resolution）、景深（Depth）、分析（Analysis）、大视野（Field）、鱼眼（Fisheye）
 
压力范围
 10 - 400 Pa（MA系列）
10 - 3000 Pa（LS系列）
 可以使用的探测器
 BSD －背散射电子探测器,多象限二极管
ETSE－Everhart-Thornley 二次电子探测器
VPSE－可变压力二次电子探测器
SCD －样品电流探测器 
EPSE－延伸可变压力二次电子探测器 

图象处理
 7种积分和平均模式  

系统控制
 基于Windows® XP的SmartSEM™ SmartPI™软件

完整的颗粒分析方案
SmartPITM软件的设计用于常规样品大量的重复的分析，它可以自动地产生，分析及包含微粒大小、形状和化学组成等数据的。
在一个生成模式界面的引导，即使是一个不熟练的操作者也可以安装样品并选择一个事先设定的程序来进行分析和提供。
然后，SmartPITM软件在自动分析所有要求测试的样品之前，完成统一的标准和设置 ，并将结果生成一个统一规格的。 

操作模式

Ÿ           自动设置SEM和X射线工作条件
Ÿ           可按操作界面的向导输入样品信息并选择分析程序
Ÿ           此后SmartPI™程序将自动测量、分类并记录每个颗粒的尺寸、形状和化学组分，并生成颗粒

配置模式
简便易用的使用软件，可供用户灵活地设置颗粒扫描：
Ÿ           SEM的设置与校准
Ÿ           样品夹具与扫描程序

Ÿ           图像处理与分析
Ÿ           EDS选择与控制
Ÿ           自动停止
模式
Ÿ           量身定制的数据
Ÿ           可追溯的数据处理

Ÿ           特殊调查时的单帧互动式分析