泰克阻抗测试仪
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泰克TDR阻抗测试仪，HDIM，USB3.0，DisplayPort，SATA等行业协会推荐的TDR高频测试方案，同时也可以进行损耗等频域测试。
特点 | 优点 |
| 多达4条真正差分通道，业内的噪底(450 fs)和的垂直分辨率(16位) | 在高分辨率、低噪声的测量系统中使用真正差分TDR激励源，提供的信号查看能力，满怀信心地、准确地检定芯片和背板/连接器设计 |
| 准确的TDR，采用远程采样头，高带宽(50 GHz)时域反射计 | 12ps入射阶跃，使用远程采样头，把TDR头放到被测器件附近，限度地减少探头、电缆和夹具的影响，解决直到1mm的阻抗不连续点 |
| 光学模块为155 Mb/s - 100 Gb/s的所有标准提供了的带宽、灵敏度、噪声性能和回波损耗(信号保真度) | 准确地、可重复地检定155 Mb/s到40 - 100 Gb/s及以上速率的ITU和以太网设计 |
| 串行数据网络、串行数据链路和抖动/噪声分析软件包选项 | 使用一台仪器进行时域分析和频域分析，降低测试成本。准确地分析信号路径，预测信号串扰和抖动，保证系统可靠运行。使用抖动、噪声和BER分析，确定眼图闭上的确切原因 |
| 全面集成码型同步触发 | 集成高速触发功能，支持苛刻的数字/逻辑码型，保证准确捕获事件 |
| 紧密集成时钟恢复功能，准确地进行眼图分析 | 支持全面集成的时钟恢复功能或时钟恢复触发拦截功能，在与泰克或第三方时钟恢复仪器一起使用时，提供经过校准的解决方案，支持155 Mb/s - 100 Gb/s信令 |